一种检测工件内孔半梯形环槽位置的专用检具[实用新型专利]
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专利名称:一种检测工件内孔半梯形环槽位置的专用检具专利类型:实用新型专利发明人:潘文明
申请号:CN201520848005.X申请日:20151028公开号:CN205175272U公开日:20160420
摘要:本实用新型涉及一种检测工件内孔半梯形环槽位置的专用检具。检具用工件的内孔和内孔中基准面“B”定位,在检具上端面径向对称开有矩形槽,槽内有可移动的两个测头,测头端部有和环槽相同的半梯形截面,将测头向外伸出,使测头端部伸入到环槽内,再用有止通端的测棒塞入两测头尾部在检具中部的间隙内,通过检测两侧头在中部的距离空间,其径向误差为工件环槽与基准面高度误差的换算值,就可方便快速的检测工件环槽位置精度。
申请人:科华控股股份有限公司
地址:213354 江苏省常州市溧阳竹箦镇余桥集镇
国籍:CN
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