模拟集成电路测试仪的设计

第３５卷第６期　Ｖｏ１．３５　Ｎｏ．６　井冈山大学学报（自然科学版）　２０１４年１１月　Ｎｏｖ．２０１４　Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　Ｊｉｎｇｇａｎｇｓｈａｎ　Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ（Ｎａｔｕｒａｌ　Ｓｃｉｅｎｃｅ）　７０　文章编号：１６７４－８０８５（２０１４）０６—００７０：０７　模拟集成电路测试仪的设计　谢义建，陈跃东　（安徽工程大学安徽省电气传动与控制重点实验室，　安徽芜湖２４１０００）　摘要：针对学校的集成电路教学实验，设计了一款模拟集成电路的测试仪。以单片机为控制核心，对几种常用　测试电路进行处理、比较，并输出判断结果。使用按键进行测试数据的输入，并通过液晶显示器显示输出结果。　同时辅以发光二极管对测试仪的状态进行显示。介绍了测试仪的硬件设计和软件流程，实验证明，设计方案合理　有效。　关键词：模拟集成电路；芯片测试；单片机；液晶显示器　中圈分类号：Ｇ　６４２．４２３　文献标识码：Ａ　ＤＯＩ：１０．３９６９／ｊ．ｉｓｓｎ．１６７４．８０８５．２０１４．０６．０１５　ＤＥＳＩＧＮ　ｏＦ　ＴＨＥ　ＴＥＳＴ　ＩＮＳＴＲＵＭＥＮＴ　ＦｏＲ　ＡＮＡＬｏＧ　ＩＮＴＥＧＲ　ＥＤ　ＣＩＲＣＵＩＴ　’ＸＩＥ　Ｙｉ－ｊｉａｎ，ＣＨＥＮ　Ｙｕｅ　ｄｏｎｇ　ｒ（ｎｎｈｕｉ　Ｐｏｌｙｔｅｃｈｎｉｃ　Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ，Ａｎｈｕｉ　Ｋｅｙ　Ｌａｂｏｒａｔｏｒｙ　ｏｆＥｌｅｃｔｒｉｃ　Ｄｒｉｖｅ　ａｎｄ　Ｃｏｎｔｒｏｌ，Ｗｕｈｕ，Ａｎｈｕｉ　２４１０００，Ｃｈｉｎａ）　Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｉｎ　ｖｉｅｗ　ｏｆ　ｔｈｅ　ｔｅａｃｈｉｎｇ　ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔ　ｉｎ　ｓｃｈｏｏｌ，ａｎ　ａｎａｌｏｇ　ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　ｃｉｒｃｕｉｔ　ｔｅｓｔｅｒ　ｉｓ　ｄｅｓｉｇｎｅｄ．Ｕｓｉｎｇ　ｔｈｅ　ｍｉｃｒｏ　ｃｏｎｔｒｏｌｌｒｅ　ｕｎｉｔ　ａｓ　ｔｈｅ　ｃｏｒｅ，ｓｅｖｅｒａｌ　ｋｉｎｄｓ　ｏｆ　ｃｏｍｍｏｎｌｙ　ｕｓｅｄ　ｔｅｓｔ　ｃｉｒｃｕｉｔ　ａｒｅ　ｄｅａｌｔ　ｗｉｔｈ，ｃｏｍｐａｒｅｄ，ｗｉｔｈ　ｔｈｅ　ｏｕｔｐｕｔ　ｄｉｓｐｌａｙｉｎｇ．Ｕｓｉｎｇ　ｋｅｙｓ　ｆｏｒ　ｔｅｓｔ　ｄａｔａ　ｉｎｐｕｔ，ａｎｄ　ｔｈｒｏｕｇｈ　ｔｈｅ　ＬＣＤ　ｄｉｓｐｌａｙ　ｓｈｏｗｓ　ｔｈｅ　ｏｕｔｐｕｔ．Ａｔ　ｔｈｅ　ｓａｍｅ　ｔｉｍｅ，　ｌｅｄ　ｉｓ　ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ　ｔｏ　ｄｉｓｐｌａｙ　ｔｈｅ　ｔｅｓｔｅｒ’Ｓ　ｓｔａｔｕｓ。Ｈａｒｄｗａｒｅ　ｄｅｓｉｇｎ　ａｎｄ　ｓｏｆｔｗａｒｅ　ｆｌｏｗ　ｏｆ　ｔｅｓｔ　ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ　ａｒｅ　ｉｎｔｒｏｄｕｃｅｄ，ｔｈｅ　ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔ　ｐｒｏｖｅｓ　ｔｈａｔ　ｔｈｅ　ｄｅｓｉｇｎ　ｓｃｈｅｍｅ　ｉｓ　ｒｅａｓｏｎａｂｌｅ　ａｎｄ　ｅｆｆｅｃｔｉｖｅ．　Ｋｅｙ　ｗｏｒｄｓ：ａｎａｌｏｇ　ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　ｃｉｒｃｕｉｔ；ｃｈｉｐ　ｔｅｓｔ；ｍｉｃｒｏ　ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ　ｕｎｉｔ（ＭＣＵ）；ＬＣＤ．　一个重要参数，但在实际测量中，除了输入和输出　引言　端口外，其他的节点电流并不可测，这也使得用于　故障诊断的有关信息量减少，文献［２］提出了直流测　在信息化时代，以集成电路技术支撑的电子信　试法和交流测试法，很好的解决了故障诊断问题，　息系统已成为电子信息化发展的根基和关键技术。　并能判断电路的功能是否正常。　随着数字电路的发展，其在现代信息技术中的优势　现有的集成电路检测仪大多数都是数字电路　得到了充分体现，应用越来越广。关于数字电路的　检测仪，模拟电路检测仪比较少，针对学生实验经　测试技术也随其应用得到充分发展，并且由于数字　常用到的Ｏ８０９，０８３２，２１１４，３５２４，ＬＭ３２４和ＬＭ３４７　电路模型相对简单，因此，数字电路测试仪是比较　等几种芯片的专门检测仪更是基本没有，因此开发　常见的【ｌ】。由于模拟电路的输入和输出都是连续的　一种针对这几种常用芯片的测试仪是很有必要的。　变化量，而且电路中元件的参数是连续量，同时各　本文介绍了一种模拟集成电路测试仪可用于检测　元件具有容差，这使得故障模型模糊化、复杂化，　这六种芯片的正常与否【３】。　难以进行简单的量化。最后，电流是模拟电路中的　收稿日期：２０１４－０３－２８；修改日期：２０１４－０７—１８　基金项目：安徽高校省级自然科学研究重点项目（ＫＪ２０１３Ａ０４１）；安徽省大学生创新创业训练计划项Ｉ￣１（ＡＨ２０１３１０３６３００５）．　作者简介ｌ・谢义建０９９ｏ－），男，安徽安庆人．硕士生．主要从事运动控制系统的分析与设计研究（Ｅ－ｍａｉｌ：ｘｉｅｙｉｊｉａｎ１２３＠１６３．ｃｏｍ）；　陈跃东（１９５６－）．男，湖北宜昌人，教授．硕士生导师。主要从事电力拖动控制系统与检测技术研究（Ｅ－ｍａｉｌ：ｙｄｃｈｅｎ＠ａｈｐｕ．ｅｄｕ．ｃｎ）．　井冈山大学学报（自然科学版）　７ｌ　１测试仪硬件设计　２１１４测试电　路　ＩＩ数字量Ｌ０８３２￣！试电　ｌ　输入卜　＿　路　．．．．．．．．．．．．．．．＿一Ｊ　。。　。。模拟量　‘Ｌ。‘　‘。Ｍ。。‘‘。。３。。。‘２。‘。。。。４。’。。’￣。’，ｉ。　Ｊ’——　输入　ＬＭ３４７钡Ⅱ试　ＭＡＸ１９７模数　按键　转换器　８９Ｃ５５　液晶显示器　模拟量　３５２４测试电　单片机　输入　路　模拟量　ｏ８ｏ９￣Ｙ试电　输入　路　图１测试仪结构框图　Ｆｉｇ．１　Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ　ｄｉａｇｒａｍ　ｏｆｔｅｓｔｅｒ　模拟集成电路测试仪结构框图如图１所示，该　测试芯片和复位测试电路。指示灯电路为６个发光　测试仪包括：单片机、按键电路、液晶显示电路、　二极管，分别接于单片机Ｐ２．０￣Ｐ２．５口，当选中某　指示灯电路和６种芯片测试电路。测试该芯片的电　个测试芯片时，该芯片对应的指示灯亮起。　路是从各芯片的功能入手，给每个芯片都搭接了一　个能够实现其功能的电路，然后给电路输入一定的　数字量或模拟量，再把输出量经过检测设备处理后　送回单片机，与单片机中预设的正确值进行比较，　如果结果一致或者接近，则证明芯片功能正常，否　则芯片出错。该单片机中预先存放了６种芯片在给　定输入量并且正常工作时的输出值，在接受到检测　设备输入的被测芯片数据量时，会将２组数据进行　比较。如果２组数据结果一直或者基本接近，则控　制液晶显示电路显示出ＯＫ。如果２组数据不一致　—＝　或者差别很大，则控制液晶显示电路显示出ＮＯ。　函２单片机的输入输出接口图　１．１　ＣＰＵ的选择　Ｆｉｇ．２　ＭＣＵｉｎｐｕｔ／ｏｕｔｐｕｔｉｎｔｃｒｆａｃ￣　采用Ａｔｍｅｌ公司的８位单片机８９Ｃ５５作为主　ＣＰＵ［４１，单片机输入输出接口图如图２所示，液晶　１．２模数转换器ＭＡＸ１９７　显示电路连接于单片机的Ｐ０输出端，用于显示单　ＭＡＸ１９７无需外接元器件就可独立完成Ａ／Ｄ　片机的检测结果（ＯＫ或者ＮＯ）。按键电路包括选　转换功能。它可分为内部采样模式和外部采样模　择芯片按钮、确认按钮和复位按钮，分别接于单片　式，采样模式由芯片的控制寄存器Ｄ５位决定。　机Ｐ１．０、Ｐ１．１和Ｐ１．２口，用于选择测试芯片、确认　ＭＡＸ１９７在本测试仪中的连接如图３所示。　７２　井冈山大学学报（自然科学版）　２８　●一　刀Ｒ　ＲＤ　ＣＳ　丑　Ｔ　ＤｏＮＤ　ＡａＮＤ　ＲＥＦＡＤＪ　ｌ　●一　２５　＋５Ｖ　ＣＬｌｃ　Ｄ？　袋皇Ｆ　ＳｌｉＤＮ　ＨＢ丑ｆ　Ｄ６　Ｄ５　Ｄ４　Ｃｌ疗　ＣＩ　５　Ｄ暑　）ｌｌ　Ｄ２，Ｄ工Ｏ　ｅ舅【５　ＣｌＩ幡　一一一～一一～一～　盟』２』呈Ｊ　寸ｏＩｌｆ　Ｊ　２２Ｊ暑；一丝。Ｊ　ｒ”　Ｄｌ　Ｄ９　ＤＯ　Ｄ８　ＶＤＤ　Ｃｌｊ３　Ｃｌ重２　Ｃｌｌｌ　Ｃｌ帕　五匹岛Ⅺ９７ＡＣＮＩ　图３　ＭＡＸ　１９７管脚图　Ｆｉｇ．３　ＭＡＸ１９７　ｐｉｎ　ｄｒａｗｉｎｇ　１．３基准源电路　拟芯片，线性度好，功耗低，并且输入电压范围非　常广，可以是４．５　ｖ～ｌ８　Ｖ的任意值。本测试仪中　在高精度高速的数模转换器中，一个精确的高　电源抑制与温度抑制的基准电压的设计是至关重　要的，其基准电压源的精度直接影响到模数转换　器的精度。本测试仪中模数转换器的基准源电压　为５Ｖ，由以ＭＡＸ８７５为核心的基准电路提供，电　路图如图４所示。　ＭＡＸ８７５的输出电压被用作ＭＡＸ１９７、０８０９和０８３２　的参考电压，为Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ转换提供了高精度的基　准，保证了测试的准确性。　１．４地址译码器和地址锁存器　地址译码器选用的是７４ＬＳ１３８，另外配合一些　ＭＡＸ８７５是一种能提供精准５　ｖ基准电压的模　或非门、或门一起构成控制端，如图５所示。　ＵｌＯＡ　●ＬＳｊ　图４基准源ＭＡＸ８７５　Ｆｉｇ．４　ＭＡＸ８７５　ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ　ＳＯｌｌｒｃｅｓ　图５　１３８控制图　Ｆｉｇ．５　１３８　ｃｏｎｔｒｏｌ　ｃｈａｒｔ　图中Ａ１０、Ａｌｌ和Ａ１２接单片机的三个端口，　由单片机编程选择某一个芯片的控制端置低。／ＣＳ１　和／ＣＳ２为显示器控制端，／ＣＳ３为ＭＡＸ１９７控制端，　构成２ｌｌ４的读写控制端口，／ＣＳ８和７４ＬＳ０２构成　０８０９的控制端口，控制０８０９的启动转换口ＳＴＡＲＴ　和使能端ＯＥ。地址锁存器选用７４ＨＣ３７３，如图６　所示。　／ＣＳ４为０８３２控制端，／ＣＳ５和７４ＬＳ３２　７４　井冈山大学学报（自然科学版）　输入直流电压Ｕ１从ｌ５脚进入分两路：一路　加到或非门；另一路送到基准电源稳压器的输入　端，产生稳定的＋５　Ｖ基准电压。＋５　Ｖ再送到电路　入端根据开关电路的具体情况，一端连到电源输出　电压的取样电路上（取样电压约为２．５　Ｖ），另一端　连到１６脚的分压电路上（取得约为２．５　Ｖ），误差　放大器的９脚可外接电容及电阻进行频率补偿。误　其他部分作为电源，＋５　Ｖ也可从ｌ６脚引出作为其　他用途。在振荡器部分的７脚上外接电容Ｃ，６脚　外接电阻Ｒ，通过调节Ｃ和Ｒ的数值即可得到所需　的振荡频率。振荡器的输出分为两路：一路以时钟　差放大器的输出送到比较器的一个输入端，与比较　器的另一个输入端的三角波电压比较，从而在比较　器的输出端出现一个随误差放大器的输出电压高低　脉冲的形式送到双稳态触发器及或非门；另一路以　而改变宽度的方波脉冲，再将此方波脉冲送到或非　三角电压的形式送到比较器的一个输入端。误差放　门的另一个输入端。最后在输出晶体管１和２上分　大器实际上是一个差分放大器，它有两个输入端：　别出现二串宽度变化相同但相位相隔１８０。的脉冲。　１脚为反相输入端；２脚为正相输入端，这两个输　３５２４测试原理图如图ｌ０所示。　ｐ　眦　图１０　３５２４测量原理图　Ｆｉｇ．１０　３５２４　ｍｅａｓｕｒｉｎｇ　ｐｒｉｎｃｉｐｌｅ　ｄｉａｇｒａｍ　３５２４的测试主要是根据它的芯片原理搭接以　模拟输入通道与地址对照表如表２所示。　上电路图，通过测量输出端电压值，来判定芯片的　表２模拟输入通道与地址码对照表　正常与否。　Ｔａｂｌｅ　２　Ａｎａｌｏｇ　ｉｎｐｕｔ　ｃｈａｎｎｅｌ　ａｎｄ　ａｄｄｒｅｓｓ　ｔａｂｌｅ　２．２　０８０９的测试电路　模拟量输入通道　地址码ＣＢＡ　０８０９的管脚功能表如表１所示。　ＩＮＯ　０００　表１　ＡＤＣ０８０９功能表　ＩＮｌ　Ｏ０１　ｌｂｌｅ　１　Ｐｉｎｆｕｎｃｔｉｏｎｔａｂｌｅ　管脚号　符号　功能　ＩＮ２　Ｏｌ０　２６，２７￣２８，１，２，３，４，５　ＩＮ０．ＩＮ７　８个模拟量输端　ＩＮ３　Ｏｌ１　６　ＳＴＡＲＴ　启动ＡＤ转换　ＩＮ４　１ＯＯ　７　Ｅ０Ｃ　转换结束信号　９　ＯＥ　片选端　．　ＩＮ５　．　１０１　１Ｏ　ＣＬＯＣＫ　外部时钟脉冲输入端　ＩＮ６　１１０　１２。１６　Ｖ￣Ｆ（＋）ＶＲＥＲ（－）　电源　１３　ＧＮＤ　接地端　ＩＮ７　，　ｌｌ１　１７，１４，１５，８，１８，１９，２０，２１　Ｄ０—Ｄ７　数据输入端　２２　ＡＬＥ　地址锁存信号　２３，２４，２５　Ｃ，Ｂ，Ａ　地址输入端　井冈山大学学报（自然科学版）　７５　０８０９测试电路图如图１１所示。　＋５Ｖ　Ｕ６　＋＿５Ｖ　．　ＬＥ　１０　ｒ＿　日Ｄｌ＝　ＵＬ置　ＣＬＫ　１ｒ－■■■■■■■■■■●■■■■■■■■■■一　ＡＤＣ０Ｅ９　ｇＴ蛆Ｔ　０Ｅ　２６　２７　工Ｎ０　Ｄ０　２８　】　１　Ｄ１　卫　２　】　ｌ４８　１　Ｄ２　卫Ｈ３　Ｄ３　１ｏＫ　２　３　卫Ｎ｜４　Ｄ４　４　】　５　Ｄ５　５　卫Ｈ＿６　Ｄ６　卫Ｈ７　Ｄ？　７　ｐ２５　Ｕ　Ｄ　ｐＬ　ＥｏＣ　ＤＤ　Ｂ　卫　．＿　１２　自ｆ　　Ｕ　Ｄ　Ｃ　１６　虬Ｅ　Ｒ卫　ｒ－　二］　１３　ａ１．１钔Ｄ　．：吾＝＿　筮一矗ＤＣＯ８０９１ｑ＂　图１ｌ　０８０９测试原理图　Ｆｉｇ．１　１　０８０９　ｔｅｓｔｉｎｇ　ｓｃｈｅｍａｔｉｃ　ｄｉａｇｒａｍ　给０８０９的八个模拟量输入端输入一个相同的电　的差值在０８０９转换的误差之内，则芯片正常，否则　压值，经过单片机送控制信号，使Ａ、Ｂ、Ｃ三个端　出错。　口从０００变化到１１１，即依次选通八个模拟量输入口，　分别进行转换，并转换后的值送回单片机。该值与单　３测试仪软件设计　片机中预存的标准值进行比较。如果返回值和标准值　要　图１２软件流程图　Ｆｉｇ．１２　Ｔｈｅ　ｆｌｏｗ　ｃｈａｒｔ　ｏｆｓｏｆｔｗａｒｅ　测试软件流程图如图ｌ２所示。以ＬＭ３２４测试　如果芯片正常，最后芯片输出电压值应与输入值相　为例具体说明。如图１３所示为ＬＭ３２４测试电路，　等。ｌ４管脚的输出值通过模数转化器ＭＡＸ１９７转　通过改变可变电阻器的阻值调节输入ＬＭ３２４的电　换后，变成数字量送入单片机，与单片机中预存的　压值的大小。芯片中四个放大器通过电阻和导线相　正确值相比较，如果一致则芯片正常；否则，芯片　连成一个整体的放大器，输入电压通过此放大器处　出错。其余５种芯片也均有一个能够实现其功能的　理后，输出一定电压值。图中Ｒ１１至Ｒ１４，Ｒ１７至　电路，通过在单片机中对接收到的数据进行验证比　Ｒ２０都设成１０　Ｋ，即每个运放都变成一个跟随器，　较测试出芯片的正常与否【５】。　７６　Ｒ１１　井冈山大学学报（自然科学版）　Ｒ１４　图ｌ３模拟集成电路测试仪中的ＬＭ３２４测试电路　Ｆｉｇ．１３　ＬＭ３２４　ｔｅｓｔｉｎｇ　ｃｉｒｃｕｉｔ　ｉｎ　ａｎａｌｏｇ　ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　ｃｉｒｃｕｉｔ　ｔｅｓｔｅｒ　４　实验兰占果　本文设计的模拟电路测试仪能对几款常用芯　片的功能进行测试，并通过指示灯判断芯片的正常　与否。在常温（２６℃）状态下，使用ＵＴ５５万用表　对ＡＤＣ０８０９、ＳＧ３５２４两款芯片进行了测量，测试　结果如表３所示。　表３实验测试结果　Ｔａｂｌｅ　３　Ｔｈｅ　ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇ　ｒｅｓｕｌｔ　测试芯片．　ＡＤＣ０８０９　测试组数　第一组　第二组　第一组　预期电压值　５Ｖ　５Ｖ　５Ｖ　５Ｖ　实际电压值　４．８９Ｖ　市场模拟测试仪　４．８１Ｖ　４．７５Ｖ　４．８７Ｖ　实验测试结果　ｏＫ（正常）　ＮＯ（不正常１　４．６５Ｖ　４．９６Ｖ　２．８１Ｖ　ＯＫ（正常）　ＮＯ（不正常）　ＳＧ３５２４　第二组　测量数据表明，当用万用表检测ＡＤＣ０８０９模　数转换后的电压值时，理想的电压值为５　Ｖ，误差　范围为±０．３，因此ＡＤＣ０８０９中的第一组数据在误　数字工程．２００４。３２（５）：５７．６０．　Ｒａｊｓｕｍａｎ　Ｒ．Ｃａｎ　ＩＣ　ｔｅｓｔ　ｌｅａｒｎ　ｆｒｏｍ　ｈｏｗ　ａ　ｔｅｓｔｅｒ　ｉｓ　ｔｅｓｔｅｄ［Ｃ］．Ｐｒｏ—ｃｅｅｄｉｎｇｓ　Ｉｎｔｅｎａｔｒｉｏｎａｌ　Ｔｅｓｔ　Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ．　２００２：ｌ１　８６．１　１９０．　差范围之内，芯片能正常工作；第二组数据超出误　单片机原理及接口技术［Ｍ］．３版．北京：北京航　［４】　李朝青．差范围，不能正常工作。同理可得，使用ＳＧ３５２４　来产生稳定的５Ｖ基准电压，误差范围为±０．１，第　一空航天大学出版社，２００５：８０．９０．　Ｍ】．４版．北京：高　［５】　华成英，童诗白．模拟电子技术基础［等教育出版社，２００６：１０７—１３４．　ａｃｔｉｃｅｓ　ｉｎ　ｍｉｘｅｄ．ｓｉｇｎａｌ　［６］　ＡｂｄｅｎｎａｄｈｅｒＳ。Ｓｈａｉｋｈ　Ｓ　Ａ．Ｐｒａｎｄ　ＲＦ　Ｉ（２　ｔｅｓｉｔｎｇ［Ｊ】．ＩＥＥＥ　Ｄｅｓｉｎ＆Ｔｅｓｇｔ　ｏｆＣｏｍｐｕｔｅｒｓ，　组所测数据４．９６　Ｖ满足要求，芯片正常；第二组　数据误差太大，芯片已损坏。　２００７．２４：３３２．３３９．　５　结束语　设计了一款针对实验室常用的模拟芯片检测　ＳｔｏｐｊａｋｏｖａＶ，　ＭａｎｈａｅｖｅＨ，　ＳｉｄｉｒｏｐｕｌｏｓＭ．　Ｏｎ—ｃｈｉｐ　ｔｒａｎｓｉｅｎｔ　ｃｕｒｒｅｎｔ　ｍｏｎｉｔｏｒ　ｆｏｒ　ｔｅｓｔｉｎｇ　ｏｆ　ｌｏｗ－ｖｏｌｔａｇｅ　ＣＭＯＳ　Ｉｃ［ｃ］．Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ　ｏｎ　Ｄｅｓｉｎ，Ａｕｔｇｏｍａｔｉｏｎ　ａｎｄ　Ｔｅｓｔ　ｉｎ　Ｅｕｒｏｐｅ　Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ　ａｎｄ　Ｅｘｈｉｂｉｔｉｏｎ１９９９．１９９９：　５３８．５４２．　仪，绘制了硬件电路的原理图和ＰＣＢ，编写了软件　程序，对３５２４、０８０９、ＬＭ３２４等几款芯片进行了　测试。测试结果表明，设计正确合理，基本能满足　Ｒａｊｓｕｍａｎ　Ｒ．Ｃａｎ　ＩＣ　ｔｅｓｔ　ｌｅａｒｎ　ｆｒｏｍ　ｈｏｗ　ａ　ｔｅｓｔｅｒ　ｉｓ　ｔｅｓａｅｄ［Ｃ】．Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ　Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ　Ｔｅｓｔ　Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ．　２００２：ｌ　ｌ８６．１　１９０．　实验室的常用需求，同时给教学实验的进一步研究　提供了一个基础平台。　柯璇，肖运红，张绪宽．试析新型ＩＣ智能测试仪的原理、　结构及其使用方法［Ｊ］．高等函授学报：自然科学版，２００３，　１６（４）：４３－４５．　邝继顺．数字集成电路电流测试技术研究［Ｄ】．长沙：湖南　大学，２００４．　统一混沌系统的电路设计［Ｊ］．井冈山大学学报　［１１】　刘明华．自然科学版，２０１２，３３（４）：５７．６０．　参考文献：　［１］Ａｂｄｅｎｎａｄｈｅｒ　Ｓ，Ｓｈａｉｋｈ　Ｓ　Ａ．Ｐｒａｃｔｉｃｅｓ　ｉｎ　ｍｉｘｅｄ－ｓｉｇｎａｌ　ａｎｄ　ＲＦ　ＩＣ　ｔｅｓｔｎｇ［ｉＪ］．ＩＥＥＥ　Ｄｅｓｉｎ＆Ｔｅｓｇｔ　ｆＣｏｍｐｕｔｏｅｒｓ．　２００７，２４：３３２－３３９．　［１　ｏ］　［２】　余强．模拟电路测试方法的研究与实现［Ｊ】＿计算机与